Détecteur à panneaux à rayons X avec technologie CMOS intégrée

Détecteurs de panneaux plats à rayons Xsont largement utilisés dans les domaines de la sécurité, des industriels et médicaux. Dans le domaine médical, il comprend tout l'équipement des rayons X sauf CT, y compris DR, DRF (Dynamic DR), DM (sein), CBCT (CT dentaire), DSA (interventionnel, vasculaire), C-Arm (chirurgie) et bien d'autres.
De la fin du 20e siècle à nos jours, de nombreux fabricants domestiques et étrangers bien connus ont développé leurs propres détecteurs de panneaux plats. Le silicium amorphe est devenu le plus courantdétecteur à panneaux plat En raison de sa technologie mature, de sa bonne adaptabilité et de son faible coût. Cependant, les plaques plates en silicium amorphe ne sont pas le meilleur choix pour les applications d'imagerie dynamique telles que le sein, la dentisterie et la chirurgie. Par conséquent, dans le domaine du sein, Hologic a inventé le détecteur amorphe de panneau plat de sélénium; Dans les domaines de la dentisterie (CBCT), de la chirurgie (bras C) et d'autres champs, Dalsa a d'abord développé un détecteur de panneaux plats CMOS. Il a également développé avec succès des détecteurs CMOS de petite et moyenne taille en masse.
La technologie de détection des rayons numériques avec détecteur CMOS comme milieu d'enregistrement a une précision de détection élevée, une bonne adaptabilité de la température et une forte adaptabilité structurelle. Les unités de détection du détecteur de balayage des rayons CMOS sont disposées dans un réseau de lignes, qui doit effectuer un mouvement de balayage relatif pendant la détection, et collecter et assembler une image d'image de projection de transillumination complète ligne par ligne. La conception de l'outillage d'inspection est introduite et la fixation et le réglage de la position du détecteur et le mouvement relatif avec la pièce d'inspection sont terminés. La configuration et l'étalonnage du détecteur, la sélection des méthodes de transillumination, le contrôle de la vitesse de mouvement, l'optimisation des paramètres d'inspection, l'analyse quantitative des défauts et la gestion des archives d'images dans des applications d'inspection sont introduites. Les résultats de l'application montrent qu'après l'optimisation du processus, les détecteurs CMOS peuvent réaliser l'inspection des rayons de la plupart des pièces de produit. En tant que nouvelle technologie, CMOS a une perspective de développement très large et une forte vitalité, et pourrait devenir l'orientation future de développement de cette industrie.
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