Détecteur à écran plat à rayons X avec technologie CMOS intégrée

Détecteurs à écran plat à rayons Xsont largement utilisés dans les domaines de la sécurité, de l’industrie et de la médecine.Dans le domaine médical, il comprend tous les équipements de radiographie sauf CT, y compris DR, DRF (DR dynamique), DM (sein), CBCT (CT dentaire), DSA (interventionnel, vasculaire), C-arm (chirurgie) et bien d'autres. plus.
De la fin du 20e siècle à nos jours, de nombreux fabricants nationaux et étrangers renommés ont développé leurs propres détecteurs à écran plat.Le silicium amorphe est devenu le plus courantdétecteur à écran plat en raison de sa technologie mature, de sa bonne adaptabilité et de son faible coût.Cependant, les plaques plates en silicium amorphe ne constituent pas le meilleur choix pour les applications d’imagerie dynamique telles que le sein, la dentisterie et la chirurgie.Par conséquent, dans le domaine du sein, Hologic a inventé le détecteur à écran plat au sélénium amorphe ;dans les domaines de la dentisterie (CBCT), de la chirurgie (C-arm) et d'autres domaines, Dalsa a d'abord développé un détecteur à écran plat CMOS.Elle a également développé et produit en série avec succès des détecteurs CMOS de petite et moyenne taille.
La technologie de détection de rayons numériques avec un détecteur CMOS comme support d'enregistrement présente une précision de détection élevée, une bonne adaptabilité à la température et une forte adaptabilité structurelle.Les unités de détection du détecteur à balayage de rayons CMOS sont disposées en réseau linéaire, qui doit effectuer un mouvement de balayage relatif pendant la détection, et collecter et assembler une image de projection par transillumination complète ligne par ligne.La conception de l'outillage d'inspection est introduite, et la fixation et l'ajustement de la position du détecteur ainsi que le mouvement relatif avec la pièce d'inspection sont terminés.La configuration et l'étalonnage du détecteur, la sélection de la méthode de transillumination, le contrôle de la vitesse de mouvement, l'optimisation des paramètres d'inspection, l'analyse quantitative des défauts et la gestion des archives d'images dans les applications d'inspection sont présentés.Les résultats de l'application montrent qu'après l'optimisation du processus, les détecteurs CMOS peuvent réaliser l'inspection par rayons de la plupart des pièces du produit.En tant que nouvelle technologie, le CMOS a des perspectives de développement très larges et une forte vitalité, et pourrait devenir l'orientation future du développement de cette industrie.
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