Le détecteur à panneaux plat est un appareil clé dans le domaine de l'imagerie médicale moderne, qui peut convertir l'énergie des rayons X en signaux électriques et générer des images numériques pour le diagnostic. Selon les différents matériaux et les principes de travail, les détecteurs de panneaux plats sont principalement divisés en deux types: des détecteurs amorphes en panneaux plats en sélénium et des détecteurs de panneaux plats en silicium amorphe.
Détecteur de panneaux plats amorphes en sélénium
Le détecteur de panneaux plats amorphes en sélénium adopte une méthode de conversion directe et ses composants de base comprennent une matrice de collection, une couche de sélénium, une couche diélectrique, une électrode supérieure et une couche protectrice. La matrice de collection est composée de transistors à couches minces (TFT) disposés de manière élémentaire, qui sont responsables de la réception et du stockage des signaux électriques convertis par la couche de sélénium. La couche de sélénium est un matériau de semi-conducteur de sélénium amorphe qui génère un film mince d'environ 0,5 mm d'épaisseur par évaporation sous vide. Il est très sensible aux rayons X et a des capacités de résolution d'image élevées.
Lorsque les rayons X sont incidents, le champ électrique formé en connectant l'électrode supérieure à l'alimentation à haute tension entraîne passer les rayons X à travers la couche isolante verticalement le long de la direction du champ électrique et atteignant la couche de sélénium amorphe. La couche de sélénium amorphe convertit directement les rayons X en signaux électriques, qui sont stockés dans le condensateur de stockage. Par la suite, le circuit de porte de commande d'impulsions tourne sur le transistor à film mince, fournissant la charge stockée à la sortie de l'amplificateur de charge, terminant la conversion du signal photoélectrique. Après une nouvelle conversion par un convertisseur numérique, une image numérique est formée et entrée dans un ordinateur, qui restaure ensuite l'image sur un moniteur pour le diagnostic direct par les médecins.
Détecteur de panneaux plats en silicium amorphe
Le détecteur de panneaux plats en silicium amorphe adopte une méthode de conversion indirecte, et sa structure de base comprend une couche de matériau scintillateur, un circuit de photodiode en silicium amorphe et un circuit de lecture de charge. Les matériaux de scintillation, tels que l'iodure de césium ou le gadolinium oxysulfure, sont situés à la surface du détecteur et sont responsables de la conversion des rayons X atténués qui traversent le corps humain en lumière visible. Le réseau de photodiode en silicium amorphe sous le scintillateur convertit la lumière visible en signaux électriques, et la charge stockée de chaque pixel est proportionnelle à l'intensité de la radiographie incidente.
Dans l'action du circuit de contrôle, les charges stockées de chaque pixel sont numérisées et lues, et après la conversion A / D, les signaux numériques sont sortis et transmis à l'ordinateur pour le traitement d'image, formant ainsi des images numériques à rayons X.
En résumé, il existe des différences dans le principe de composition et de travail entre le sélénium amorphe et les détecteurs amorphes de panneaux plats en silicium, mais les deux peuvent convertir efficacement les rayons X en signaux électriques, générer des images numériques de haute qualité et fournir un fort soutien pour un diagnostic d'imagerie médicale.
（Ressources de référence: https: //www.chongwuxguangji.com/info/muscle-3744.html）
Heure du poste: DEC-03-2024